贺州贺州蔡司贺州扫描电镜Sigma360：材料表面与元素分析的全能扫描电镜
▲ 功能与应用
热场发射扫描电子显微镜(SEM)是一种强大的材料表面与元素分析工具。通过高能电子束对材料表面进行扫描，SEM能够提供高分辨率的图像，揭示材料的微观结构。 同时，结合能量色散谱(EDS)技术，SEM还能对材料中的元素进行定性、定量分析，为材料科学、生物学、医学等领域的研究提供有力支持。
▲ 主要技术参数
SEM的主要技术参数包括：在15kV下，二次电子像不低于1.2nm的分辨率;放大倍率范围从30倍到100000倍;加速电压可在1kV至30kV之间调节;电子束流更大束流不低于20nA。信号种类包括SE2(获取样品表面形貌和亚表层电荷信息)、inlens(获取样品表层信息)以及HBSD(背散射，主要用于物相分布分析)。放大倍数更高可达50000X，即标尺为200nm。
▲ 主要附件
配备的能谱仪EDS采用牛津OXFORD X-MAXⁿ型号，支持元素的定性、定量分析。
02样品分析要求
SEM适用于分析材料形貌、物相及元素种类和含量。样品应为干燥的固体，可以是块状、片状、纤维状或粉末状;样品整体高度不超过2cm，长宽或直径不超过4cm。样品需具备导电性，若导电性不佳，可通过喷金处理增强;粉末样品需固定牢固，少量液体可直接滴在硅片上干燥后进行测试。
